EasyTom XL

高分辨率 微米或纳米级三维计算机断层扫描＆数字化 X 光透视系统

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高分辨率
微米或纳米级三维计算机断层扫描＆数字化
X 光透视系统

高分辨率三维计算机断层扫描

实时高分辨率数字化 X 光透视

纳米级分辨率配置可选

5-250  um  分辨率 （0.35 um  配置可选 ）

最大样品尺寸( (直径  x 高度 : 320mm x720mm)

可编程自动控制重复扫描

样品位置记忆

广泛的应用领域及产品分析

铅及钢铁结构，X  射线内锁定系统，操作安全

技术规格

设备尺寸

• 2750x1850x2400 mm

• 铅/钢铁结构，X 射线安全互锁，符合 X 射线安全使用要求

• X 射线照射时舱门自动锁定

• 扫描体积(直径 x 高度): 320 mm x 720 mm

机械轴 

• 高精度电动选装及移动轴

• 成像器水平，竖直方向移动（可选），增大扫描区域，降低环形伪影

• 空气轴承旋转台（可选），提高载重量

X射线管多种类型射线管可选:

• 封闭式/开放式微米级 X 射线管(130 KV,150 KV,230 KV)

• 开放式纳米级 X 射线管（160 KV）

• 最高电圧至 230 KV （可选）

• 分辨率 5-250 um（最高配置可至 0.35 um）

• 多种射线管灯丝可选

成像器 多种成像器可选:

• 高分辨率平板探测器

• 大面积平板探测器

• CCD 探测器

计算机 

• 多种强大的 GPU 配置

• 高分辨率显示器，Windows 10.

软件 RX Solutions X-Act 软件:

• 主要插件用于驱动 X 光，成像器，机械轴，尺寸测量，图像/视频导出，图像采集，图像过滤，X 光透视，扫描模式（常规扫描，分段扫描，分块扫描，螺旋扫描）…

• 宏命令模式用于自动采集数据

• GPU 加速图像重建

• 三维可视化及后处理，CAD 比对，气孔及壁厚分析组件缺陷分析（可选）