RX SOLUTIONS用于非接触和非破坏的物品内部检查,可以无需破坏物品外观而清晰的显示物品的内部结构,并且可以非常详细的检测物品内部的空隙、裂痕、遗留异物、焊接和粘接的连接状态。
三维计算机断层扫描; 实时高分辨率数字化X 光透视; 免维护; 4 个电动运动轴; 5 -250 um 分辨率;最大样品尺寸:25 cm(9.8 英寸); 小空间
高分辨率 微米或纳米级三维计算机断层扫描&数字化 X 光透视系统
高分辨率 微米或纳米级三维计算机断层扫描&数字化 X光透视系统
Modular system with multiple imagers and x-ray generators; Very large inspection volume and manipulation volume ;From micro to nano 3D CT scan ;Experimentations possible in-situ
SEIKOH GIKEN可以提供多种产品检测服务,分别有计量分析、材料分析、品质管控等
EasyTomS 三维X 射线计算机 断层扫描成像系统
高分辨率微米级&纳米级CT系统,紧凑空间中功能最强大的设备